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檢漏儀檢漏原理氦質(zhì)譜重慶氣密性檢漏儀在使用過程中,常見的故障是燈絲脆斷。氦質(zhì)譜檢漏儀的燈絲主要由鎢錸合金絲制成。由于純鎢絲在高溫下再結晶后變得非常脆,在再次沖擊或振動時容易斷裂。其原因是鎢晶體的界面經(jīng)常形成微裂紋,這些微裂紋的擴展很容易使鎢斷裂。泄漏檢測技術在中國經(jīng)濟中占有非常重要的地位。廣泛應用于半導體、原子能、電力、航空、航天、醫(yī)療、制冷、真空、汽車等行業(yè)。 與氣泡檢漏法、壓力衰減法和鹵素檢漏法相比,氦質(zhì)譜檢漏法具有靈敏度高、速度快、適用范圍廣、無毒、無損、重量輕等優(yōu)點,而且檢漏原理不同。它是許多泄漏檢測方法中的一種有效方法。 鎢錸絲具有熔點高、強度高、硬度高、塑性好、再結晶溫度高、電阻率高、蒸氣壓低、電子功低、塑脆轉(zhuǎn)變溫度低等優(yōu)點。但鎢錸絲極易氧化,在真空和惰性氣體中能保持較長的使用壽命,但在氧化氣氛中易碳化,降低其靈敏度,造成脆斷。在氫的存在下,它會加速碳化。 氦質(zhì)譜檢漏儀處于備用狀態(tài)時,電離室真空度保持在≤3×10-2Pa,燈絲不易氧化脆化。在檢漏過程中,當出現(xiàn)意外情況時,系統(tǒng)突然暴露在大氣中或真空度突然降低,導致大量氣體突然進入電離室。當真空度≥1x10-1pa時,燈絲電流急劇增大,燈絲碳化,發(fā)生脆性斷裂。 如何延長氦質(zhì)譜檢漏儀的燈絲壽命?通過分析可知,氦質(zhì)譜檢漏儀燈絲脆斷的原因有:1。低真空;2。燈絲電流過大。氣壓過高的氣體對燈絲有害(氧化氣體、水蒸氣、氫氣)。為了延長氦質(zhì)譜檢漏儀的燈絲壽命,必須避免燈絲在上述惡劣環(huán)境中長時間開啟,或盡可能改善燈絲的上述使用條件。例如:1。使用時盡量將真空開關置于空擋位置。避免電離室中的有害氣體(氧化氣體、水蒸氣、氫氣)。 |